正版?深度學(xué)習(xí)框架下目標(biāo)檢測(cè)關(guān)鍵技術(shù)及應(yīng)用研究 韓明、王敬濤、劉智國(guó)、賈夢(mèng)、宋宇斐、趙冰雪、茹曉彤、李瑞虹、曹智軒?本書主要結(jié)合深度學(xué)習(xí)技術(shù)進(jìn)行目標(biāo)跟蹤研究,利用深度學(xué)習(xí)算法速度與精度的優(yōu)勢(shì)進(jìn)行研究,對(duì)輸電線路的典型目標(biāo)、線路異物,以及煙支缺陷進(jìn)行目標(biāo)檢測(cè),本書的算法和應(yīng)用研究是人工智能技術(shù)在工業(yè)生產(chǎn)中的重要體現(xiàn)。正版全新書籍現(xiàn)貨如需其他圖書敬請(qǐng)聯(lián)系客服:)
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